书目详细信息
： 光电子器件微波封装和测试
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-03-033004-8:CNY198.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 光电子器件微波封装和测试/.祝宁华著 |
| 版本项： | 2版 |
| 出版发行项： | 北京:,科学出版社:,2011 |
| 载体形态项： | 17,433页:;+图:;+24cm |
| 丛编项： | 半导体科学与技术丛书 |
| 提要文摘： | 本书内容包括半导体激光器、光调制器和光探测器三种典型高速光电子器件的微波封装设计，网络分析仪扫频测试法、小信号功率测试法、光外差技术等小信号频率响应特性测试方法及测试系统校准方法，数字和模拟通信光电子器件大信号频率响应特性测试方法，光电子器件本征响应特性分析和应用，光谱与频谱分析技术，光注入技术及其应用。 |
| 题名主题： | 光电器件 微波技术 封装工艺 |
| 题名主题： | 光电器件 微波测量 |
| 中图分类： | TN15 |
| 个人名称等同： | 祝宁华 著 |
| 记录来源： | CN DHSJ 20260309 |
| 记录来源： | CN JTXY 20260312 |