书目详细信息
： 半导体集成电路的可靠性及评价方法
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-121-27160-1:CNY88.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 半导体集成电路的可靠性及评价方法/.章晓文，恩云飞编著 |
| 出版发行项： | 北京:,电子工业出版社:,2015 |
| 载体形态项： | 394页:;+图:;+24cm |
| 丛编项： | 可靠性技术丛书 |
| 提要文摘： | 本书共11章，以硅集成电路为中心，重点介绍了半导体集成电路及其可靠性的发展演变过程、集成电路制造的基本工艺、半导体集成电路的主要失效机理、可靠性数学、可靠性测试结构的设计、MOS场效应管的特性、失效机理的可靠性仿真和评价。 |
| 题名主题： | 半导体集成电路 可靠性 评价法 |
| 中图分类： | TN43 |
| 个人名称等同： | 章晓文 编著 |
| 个人名称等同： | 恩云飞 编著 |
| 记录来源： | CN 新华书店 20201217 |