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书目详细信息： 软件缺陷模式与测试

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《软件缺陷模式与测试》

ISBN/价格：	9787030317261:CNY56.00
作品语种：	chi
出版国别：	CN 110000
题名责任者项：	软件缺陷模式与测试/.宫云战[等]著
出版发行项：	北京:,科学出版社:,2011
载体形态项：	268页:;+24cm
提要文摘：	本书全面论述了基于缺陷模式软件测试的一般方法，包括软件缺陷的综合论述、面向C／C++／Java的软件缺陷模式的分类、各种软件缺陷模式的定义等内容。
题名主题：	软件测试
题名主题：	软件
中图分类：	TP311.56
个人名称等同：	宫云战著
记录来源：	CN 蓝天数据编目 20120707

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