书目详细信息
： 半导体制造中的质量可靠性与创新
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-121-28246-1:CNY98.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 半导体制造中的质量可靠性与创新/.简维廷, 郭位 (美) , 张启华编著 |
| 出版发行项： | 北京:,电子工业出版社:,2016.03 |
| 载体形态项： | 271页:;+图:;+26cm |
| 提要文摘： | 本书是由集成电路行业质量与可靠性管理领域的国际知名学者, 中芯国际集成电路制造有限公司副总裁简维廷、郭位院士 (美)、张启华等专家编著的一本阐述质量与可靠性工程在集成电路制造中的实际应用的专著。书中系统、深入地介绍了从设计、制造评估到使用实际工程中各个环节的质量与可靠性问题, 并将作者独到的创新理念融入于整个书中。全书共4章。第1章简要介绍了中国集成电路产业目前发展的状况及趋势, 以及集成电路制造过程中, 质量与可靠性管理工作主要涵盖的内容。第2-4章, 分别针对质量、可靠性和失效分析 (Failure Analysis, FA) 三大课题, 通过大量的实用案例, 以及作者在管理和工程上积累的众多创新经验和创新理念, 阐述了如何在透彻了解理论知识的基础上, 将这些知识应用于实际的生产线和产品的质量与可靠性管理。 |
| 题名主题： | 半导体工艺 质量管理 |
| 中图分类： | TN305 |
| 个人名称等同： | 简维廷 著 |
| 个人名称等同： | 郭位 (美) 著 |
| 个人名称等同： | 张启华编 著 |
| 记录来源： | CN JTXY 20171217 |